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USB物理层测试基本参数
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Type-C的接口是双面的,也就是同一时刻只有TX1+/TX1一或者TX2+/TX2-引脚上会有USB3.1信号输出,至于哪一面有信号输出,取决于插入的方向。如图3.18所示,默认情况下DFP设备在CC引脚上有上拉电阻Rp,UFP设备在CC引脚上有下拉电阻Ra,根据插入的电缆方向不同,只有CCl或者CC2会有连接,通过检测CCl或者CC2上的电压变化,DFP和UFP设备就能感知到对端的插入从而启动协商过程。信号质量的测试过程中,由于被测件连接的是测试夹具,并没有真实地对端设备插入,这就需要人为在测试夹具上模拟电阻的上下拉来欺骗被测件输出信号USB物理层测试是否涵盖对噪声和干扰的测试?重庆校准USB物理层测试

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要进行USB2.0传输速率测试,可以使用一些合适的工具和设备。以下是使用合适的工具和设备进行传输速率测试的探讨:USB2.0测试仪器:使用专门的USB2.0测试仪器是进行传输速率测试的优先。这些仪器通常具有能够模拟和监测USB2.0传输的功能,可以提供准确的传输速率测量和分析。信号发生器:信号发生器可用于产生不同频率和幅度的信号,并将其输入USB2.0设备进行测试。这可用于模拟不同数据传输场景,以评估设备在不同情况下的传输速率。场强仪:场强仪可用于测量USB2.0设备接收到的信号强度。这有助于评估信号在传输过程中的衰减情况,从而影响传输速率。示波器:示波器可以用于观察和分析USB2.0设备接收到的数据信号的波形。通过检查波形,可以确定信号的稳定性和完整性,从而影响传输速率。电流表和电压表:使用电流表和电压表等仪器,可以测量和记录USB2.0设备的电流输出和电压稳定性。这有助于评估设备的电源供应能力,从而影响传输速率。河北USB物理层测试哪里买如何测试USB接口在高温环境下的性能?

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每一代USB新的标准推出,都考虑到了对前一代的兼容能力,但是一些新的特性可能只能在新的技术下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更强的供电能力及对多协议的支持等,都只能在新型的Type-C连接器上实现。由于USB总线的信号速率已经很高,且链路损耗和链路组合的情况非常复杂,所以给设计和测试验证工作带来了挑战,对于测试仪器的功能和性能要求也与传统的USB2.0差别很大。下面将详细介绍其相关的电气性能测试方法。由于涉及的标准众多,为了避免混淆,我们将把USB3.0、USB3.1、USB3.2标准统称为USB3.x,并与USB4.0标准分开介绍。

针对某特定讯号速度(低速、全速或高速)先选择需进行的量测项目,然后根据层(即DUT的连接层)、测试点(DUT的测试点-近端或远程)以及传输方向(上传或下传测试)设定应用程序,如图所示。在完成了这两步之后,使用者即可执行自动量测了。接着就是设置DUT类型、速率、夹具和测试分析模式,由于DUT是device,所以在Device一栏选择Device;USB2.0的速率为7G;测试的夹具分为了两类,一类是USB-IF协会的,另一类就是Tektronix的,在这里选择的是Tektronix的测试夹具;另外一个非常关键的点就是TestMethod,是否选用USB-IFSigTest的分析方法,通常,我们会选择使用;选择参考时钟,一般高速串行信号都会选用SSC模式;还要根据产品使用。USB4.0电气测试主要包括以高性能示波器为基础的发送端测试、以误码仪为基础的接收端测试。

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由于数据速率提升,能够支持的电缆长度也会缩短。比如USB2.0电缆长度能够达到5m,USB3.0接口支持的电缆长度在5Gbps速率下可以达到3m,USB3.1在10Gbps速率下如果不采用特殊的有源电缆技术只能达到1m。USB4.0标准中通过提升芯片性能,在10Gbps速率下可以支持2m的电缆传输,而在20Gbps速率下也能支持0.8m的无源电缆。随着新的更高速率接口的产生,原有的USB连接器技术也在不断改进。图3.2是一些类型的USB2.0和USB3.0连接器类型。其中,Type-C是随着USB3.x标准推出的新型高性能连接器,也可以向下兼容提供USB2.0的连接。对于不同类型连接器的主机、设备、电缆来说,其传输通道损耗的要求也不一样。图3.3是USB3.1标准中各种速率和接口类型组合对于链路损耗的要求(损耗值对应的是Nyquist频点,即信号数据速率的1/2频率处),在具体电路设计和测试中可以参考。如何测试USB接口的传输线路的串扰程度?智能化多端口矩阵测试USB物理层测试眼图测试

USB物理层测试是否需要考虑对USB Type-C接口的测试?重庆校准USB物理层测试

此外,在USB4中,我们要参考路由器主机或路由器设备组件通道预算。利好是我们在执行USB4一致性测试时(其在TP2和TP3测试点上执行),TP2和TP3测试点的连接或设置仍是一样的。新的测试要求和挑战USB4中出现了许多新的测试要求,同时带来了需要解决的对应的测试挑战。第一步是发射机预置校准(Transmitter Present Calibration),这是发射机测试的前提步骤。在这一测试中,我们捕获全部16个预置波形,然后测量数据确定性抖动 (DDJ)。在USB4中,在通路初始化过程中,接收机会请求改变预置值,对被测参数可能并不会使用比较好的预置值。因此,比较好先验证和测量所有其他预置值,然后再执行发射机测试。重庆校准USB物理层测试

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从2015年到现在,是德科技基于磷化铟(InP)工艺的Infiniium系列高带宽示波器,凭借其优异的低噪声、低抖动底噪等硬件性能和的尾部拟合”Tail-fit”抖动分离算法等软件,一直是被Intel和Thunderbolt认证实验室认可和批准使用的高带宽示波器。进入到USB4.0时代,大家如果仔细通读每一个版本的测试规范,都可以发现,所以的仪表截屏、设定和算法,采用的都是德科技高带宽示波器。2019年,是德科技基于第二代磷化铟(InP工艺,推出了110GHz带宽,256GSa/s采样率,硬件10bitADC,25fs抖动底噪的UXR系列示波器,将高速信号量测精度推到了另外一个高度。如下所示,...

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