极速检测架构:重新校准工业检测的"时间成本"对比传统检测设备30分钟以上的单次检测周期,X-MET8000分析仪将时间压缩至8秒,效率提升225倍。这背后是硬件与软件的深度协同:高性能硅漂移探测器(SDD)实现X射线信号的毫秒级响应,定制化FPGA芯片实时处理百万级数据,配合智能省电模式,满电状态可...
便携式分析仪已被证明特别受欢迎,占2017年PMI分析仪市场的比较大份额,其中石油和天然气行业的份额比较大。从重量*为1.5公斤的XRF或LIBS(激光诱导击穿光谱)手持分析仪,到重量为15公斤的便携式直读光谱仪,它们允许现场检验相关金属零部件的化学成分。以前PMI分析仪是实验室里的固定装置,需要预先准备样品,而便携式分析仪允许用户在现场检查关键的工艺部件。通过检验金属板材管道法兰焊接和阀门,操作者可以更好地确保他们在使用期限内现场检验保持安全和合规性。日立手持合金分析仪体积小巧轻便,可以随身携带,方便在各种场合下使用。台州直读分析仪设备

手持式XRF分析仪(HHXRF)使得对工厂管道和其他长久性基础设施进行定期PMI安全检测成为可能。实际上,要满足法规(例如API5L规范)就需要使用便携式仪器进行现场分析。然而,在各工厂进行PMI分析时,仍然存在挑战,即许多部件在正常运行期间会出现过热现象。因此在许多情况下,只能在工厂停工期间进行必要的检测工作(一般每五年进行一次),此类停工时间的成本极高。针对日立X-MET8000开发的HERO窗口可改变上述情况。装配有HERO窗口的X-MET手持XRF光谱仪,可以直接检测运行中的工厂管道和其它部件,而不需要停产。包括检测Si这类轻元素。手持激光分析仪维修针对不同的金属材料,手持合金分析仪可以提供准确和可靠的分析结果帮助企业和个人更好了解材料质量和性质。

当正确操作对安全至关重要时,您需要一款能够在各种测试应用领域中快速准确地提供结果的手持合金分析仪。我们的设备可以帮助您测量管道、阀门、焊缝、部件和压力容器,确保实现工厂长时间正常运行,而无需货比三家。问一下自己:是否需要能够测量温度高达400℃热表面的快速、便携的手持合金分析仪,以便它可以用于测量正在工作中的组件而无需关闭操作?您是否也需要测量碳(包括可靠的碳当量分析)?既然没有任何仪器能同时解决这两个问题,那么为何要二选一呢?我们为检测、化工、石油和天然气以及电力公司推荐全套解决方案。
X-MET8000Geo手持式光谱仪可用于现场环境筛查、探矿、矿脉与品控等地质化学工作。其可测量多达40种元素,并可应客户要求提供额外的元素测量能力。手持式光谱仪可在几秒钟内显示结果,实时共享数据,加快决策进程,让分析程序完成速度更快对实验室分析的依赖度更低。手持式分析仪可存储100,000多个结果,可通过U盘或PC以CSV格式或PDF格式进行下载同时还可创建完全自定义报告。依靠智能手机APP应用程序,可与同事和客户实时共享试验结果,并可添加现成图片。分析仪坚固耐用,达到IP54等级防尘防水,因此可以轻松应对室内外使用环境,甚至是炎热环境。仪器准备时间极短,从启动到开始分析*需20秒。电池续航力较长(10-12小时),一次充电可以保证全天工作。手持合金分析仪,可以更加快速、准确地检测钻头和锯片中的各种合金元素,从而为用户提供更好的产品。

Kubera集团从事贵金属(包括金、银和铂)贸易和出口,并以其严格的监控机制以及符合国家和国际标准而闻名。Kubera集团须分析整个过程(从购买到熔炼和加工成锭)中的金属成分。在Kubera集团购买金属分析仪之前,其无法准确地确定贵金属成分,导致交易时存在一定的不确定因素。一旦购买了材料就得依靠第三方检测,这不仅成本高昂,而且涉及贵重金属的运输会存在风险。这也让该公司在购买材料前对其价值有了更大的确定性,因为现在只需将金属分析仪携带至采购现场,并对材料进行快速分析,即可分析出待售贵金属的具体成分,从而获得材料的价值。由于无需送至外部检测,因此整个过程更快、更有效。手持合金分析仪一般有二种,一是基于X荧光光谱的手持式X射线荧光光谱仪对被检测样品几乎没有要求。台州直读分析仪设备
金属分析仪的结果屏幕显示可由用户自定义,以满足个人需求并显示感兴趣的元素和/或通过/失败消息。台州直读分析仪设备
在金属行业中,信息支配一切的一个原因是,数据能够使制造质量保证和控制过程更简单、更快速。然而,尽管可用的数据量巨大,但问题是制造商如何将此等数据转化为有价值的事物(即识别模式和预测运行状况),以作出明智的决策。即使每天进行数千次测量金属分析仪的数据也可通过多种方式帮助制造商优化生产,包括:通过在过程的**早阶段识别缺陷以提高产品质量;通过机器故障预测和诊断实现及时的预防性工作、减少停机时间,以及降低对业务造成严重损害的突发故障风险;通过使用大数据进行预测分析以降低成本,从而缩短质量保证过程。台州直读分析仪设备
极速检测架构:重新校准工业检测的"时间成本"对比传统检测设备30分钟以上的单次检测周期,X-MET8000分析仪将时间压缩至8秒,效率提升225倍。这背后是硬件与软件的深度协同:高性能硅漂移探测器(SDD)实现X射线信号的毫秒级响应,定制化FPGA芯片实时处理百万级数据,配合智能省电模式,满电状态可...
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