企业商机
电阻测试基本参数
  • 品牌
  • 新成,浙大鸣泉,广州维柯
  • 型号
  • GWHR-256
电阻测试企业商机

NO.3PCB制程钻孔钻孔参数不当或钻针研磨次数太多会导致孔壁表面凹凸起伏大。在化学湿加工过程中,表面凹陷之处易聚集或包覆金属盐类溶液,易渗入到薄弱结合部的细微裂缝中,从而导致出现CAF的可靠性问题。因此需选择较合适的钻孔参数和较新的钻针,以确保钻孔的质量。除胶渣除胶渣若参数选择不当,除胶不净会影响电镀的质量,增加CAF失效的机会。因此根据不同类型材料需选择合适的除胶参数。压合需要选择合适的压合程序,尤其是多层板要注意层压参数的匹配性,确保压合的质量。电阻测试设备对使用技巧有较高要求。浙江离子迁移电阻测试分析

电阻测试

CAF形成过程:1、常规FR4P片是由玻璃丝编辑成玻璃布,然后涂环氧树脂半固化后制成;2、树脂与玻纤之间的附著力不足,或含浸时亲胶性不良,两者之间容易出现间隙;3、钻孔等机械加工过程中,由于切向拉力及纵向冲击力的作用对树脂的粘合力进一步破坏;4、距离较近的两孔若电势不同,则正极部分铜离子在电压驱动下逐渐向负极迁移。CAF产生的原因:1、原料问题1)树脂身纯度不良,如杂质太多而招致附著力不佳;2)玻纤束之表面有问题,如耦合性不佳,亲胶性不良;3)树脂之硬化剂不良,容易吸水;4)胶片含浸中行进速度太快;常使得玻纤束中应有的胶量尚未全数充实填饱造成气泡残存。2、流程工艺问题1)孔粗-钻孔太过粗糙,造成玻纤束被拉松或分离而出现间隙;2)除胶渣-PCB制程之PTH中的除胶渣过度,或沉铜浸入玻纤束发生灯芯效应,过度的灯芯加上孔与孔相距太近时,可能会使得其间板材的绝缘品质变差加速产生CAF效应。海南pcb板电阻测试系统用于印制电路板、阻焊油墨、绝缘漆、胶粘剂,封装树脂微间距、IC封装材料等绝缘材料性能退化特性评估。

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一、产品特点1.**温度监测系统,使测试系统可适用任何环境试验箱。2.采用高可靠性、高精度的测试仪器,并经过CE认证,在计量方面均可溯源到国际标准。3.面向用户开发的测试软体,充分满足不同用户的独特要求,使测试软体的操作介面更完善、更方便。4.模组式的测试系统结构,使维修方便、快捷;具有良好的可扩展性。5.采用反应时间小于3毫秒并且寿命高达1000万次的开关控制系统,确保测试的可靠性。6.**的UPS供电系统,使测试系统能够保证测试资料的可靠性,可以保证在突然断电时测量资料不丢失。7.细小的模块外接插头,使每个插头能够方便的通过环境试验的通孔。二、设计原理导通电阻的测试方式是先对被测物体施加一个恒定直流电流,再准确测量出该被测物上的电压,根据欧姆定律换算出电阻值;对于测试小电阻时,由于测试引线上存在一定的电阻,该引线电阻会严重影响到测量的精度,为此,需要通过四线测试模式来达到在测试过程中消除引线电阻所带来的测试误差。

4、在初始的绝缘电阻测量后关闭测试系统,使样品在65±2℃或85±2℃、相对湿度为87+3/-2%RH、无偏压的环境下静置96个小时(±30分钟)。96个小时(±30分钟)的静置期后,在每个菊花链网络和地之间测试绝缘电阻。5、确认所有的测试样品的连接是有效的,每个测试电路对应适当的限流电阻。然后将测试板与电源相连开始进行T/H/B部分的CAF测试。6、确认适当的偏置电压已经被加载在样品上进行周期性测试。为了比较不同内层材料和制程的耐CAF性能,使用100V直流偏压的标准CAF测试条件。为了确认测试结果与实际寿命之间的关系,第二个偏置电压条件需要选择给定的最高工作电压的两倍。当一个较小的偏置电压不能有效地区别更多不同的耐CAF材料和制程时,更高的偏置电压由于会线性地影响失效时间,应该被避免采用。这是因为过高的偏置电压会抵消掉相对湿度的影响,而相对湿度由于局部加热的原因是非常重要的失效机制部分。7、在96个小时的静置时间后,测试电压和偏置电压的极性必须是始终一致的。锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性的物质。

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PCB/PCBA绝缘失效的表征电介质长期受到点场、热能、机械应力等的破坏。在电场的作用下,电介质会发生极化、电导、耗损和击穿等现象,这些现象的相关物理参数可以用相对介电系数、电导率、介质损耗因数、击穿电压来表征。什么是PCB/PCBA绝缘失效?PCB/PCBA绝缘失效是指电介质在电压作用下会产生能量损耗,这种损耗很大时,原先的电能转化为热能,使电介质温度升高,绝缘老化,甚至使电介质熔化、烧焦,终丧失绝缘性能而发生热击穿。电介质的损耗是衡量其绝缘性能的重要指标,电介质即绝缘材料,是电气设备、装置中用来隔离存在不同点位的导体的物质,通过各类导体间的绝缘隔断功能控制电流的方向。CAF测试——电路板离子迁移测试的有效方法!江苏国内电阻测试服务电话

除了基本的电阻测试功能外,智能电阻还可以提供其他附加功能。浙江离子迁移电阻测试分析

离子迁移的两大阶段离子迁移发生的主因是树脂与玻纤之间的附着力不足,或含浸时亲胶性不良,两者之间一旦出现间隙(Gap)后,又在偏压驱动之下,使得铜盐获得可移动的路径后,于是CAF就进一步形成了。离子迁移的发生可分为两阶段:STEPl是高温高湿的影响下,使得树脂与玻纤之间的附着力出现劣化,并促成玻纤表面硅烷处理层产生水解,进而形成了对铜金属腐蚀的环境。STEP2则已出现了铜腐蚀的水解反应,并形成了铜盐的沉积物,已到达不可逆反应,其反应式如下:浙江离子迁移电阻测试分析

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