深圳新一代AOI光学检测

从广义上来说，MVI是一种模拟和拓展人类眼、脑、手的功能的一种技术，在不同的应用领域其定义可能有着细微的差别，但都离开不了两个根本的方法与技术，即从图像中获取所需信息，然后反馈给自动化执行机构完成特定的任务。可以说基于任何图像传感方法（如可见光成像、红外成像、X光成像、超声成像等等）的自动化检测技术都可以认为是MVI或AVI。当采用光学成像方法时，MVI实际上就变为AOI。因此AOI可以认为是MVI的一种特例。根据成像方法的不同，AOI又可分为三维（3D）AOI和二维（2D）AOI，三维AOI主要用于物体外形几何参数的测量、零件分组、定位、识别、机器人引导等场合；二维AOI主要用于产品外观（色彩、缺陷等）检测、不同物体或外观分类、良疵品检测与分类等场合。 离线AOI能够自动识别电路板上的不良焊点、漏焊等问题。深圳新一代AOI光学检测

AOI产品介绍，全称为自动光学检测，是一种高精度的电子制造业检测技术。AOI技术可以在电子制造过程中对电路板进行自动检测，检测出电路板上的缺陷，从而提高电子制造的质量和效率。AOI技术的优势1.高精度检测AOI技术可以对电路板进行高精度的检测，可以检测出微小的缺陷，如焊点缺陷、元件偏移等，从而提高电子制造的质量。2.自动化检测AOI技术可以实现电路板的自动化检测，无需人工干预，从而提高电子制造的效率。3.多功能检测AOI技术可以检测多种类型的电路板，包括单面板、双面板、多层板等，可以满足不同电子制造的需求。 浙江离线AOI编程离线AOI能够自动识别电路板上的不良电路、短路等问题。

AOI检测设备中常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源，一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大，灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源，比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理，检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段，因材料成分与红外光谱有对应关系的原理，红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用，甚至可以实现成分分析。特殊光源中，利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化，利用光学干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷检测中的得到了应用，例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差，可以测量出被测物体与参考物体之间的差异，且分辨率与精度为可以达到亚波长，测量三维物体形貌与高度也正成为AOI检测的新需求。（下图为侧光源与同轴光源实例）

AOI是一款专业的光学自动检测设备，它能够高效地检测电子元器件的质量，提高生产效率，减少人工误差，是电子制造行业的必备工具。首先，AOI具有高精度的检测能力。它能够检测电子元器件的尺寸、位置、形状、颜色等多个方面的参数，精度高达0.01mm，能够有效地避免因人工检测而产生的误差，提高产品的质量和稳定性。其次，AOI具有高效的检测速度。它能够在短时间内完成大量的检测任务，提高生产效率，降低成本。同时，它还能够自动识别和分类不合格品，减少人工干预，提高生产效率。 离线AOI能够自动识别电路板上的不良焊盘、烧焊等问题。

AOI自动光学检测设备有个比较大的缺点是有些灰阶或是阴影明暗不是很明显的地方，比较容易出现误判的情况，这些或许可以使用不同颜色的灯光来加以判别，但较麻烦的还是那些被其他零件遮盖到的元件以及位于元件底下的焊点，因为传统的AOI只能检测直射光线所能到达的地方，像是屏蔽框肋条或是其边缘底下的元件，往往就会因为AOI检测不到而漏掉。总之，AOI自动光学检测设备虽然好用但确实也有些先天上的限制，不过可以用在即时的SMT初步品质分析，并马上回馈SMT的品质状况，让SMT制程作业加以改善，的确可以有效提高SMT的产出良率。 AOI是将电路板上的器件或者特征(比如焊点)捕捉成像。上海智能AOI检测

现流行的AOI一般光源分为普通荧光灯和同轴光源两种。深圳新一代AOI光学检测

AOI系统集成技术牵涉到关键器件、系统设计、整机集成、软件开发等。AOI系统中必不可少的关键器件有图像传感器（相机）、镜头、光源、采集与预处理卡、计算机（工控机、服务器）等。图像传感器常用的是各种型号的CMOS/CCD相机，图像传感器、镜头、光源三者组合构成了大多数自动光学检测系统中感知单元，器件的选择与配置需要根据检测要求进行合计设计与选型。AOI采用的光学传感器和光学透镜相当于人眼，AOI的图像处理与分析系统就相当于人脑，即“看”与“判”两个环节，在整个AOI检测中，其工作逻辑可以简单地分为：Step1：图像采集阶段（光学扫描和数据收集）Step2：数据处理阶段（数据分类与转换）Step3：图像分析段（特征提取与模板比对）Step4：缺陷报告阶段四个阶段（缺陷大小类型分类等） 深圳新一代AOI光学检测

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