类型1~2000V通道数16-256测试组数1-16组工作时间1-9999小时偏置电压1-2000VDC(步进)测试电压1-2000VDC(步进)电阻测量范围1x104-1x1014Ω电阻测量精度1x104-1x1010Ω≤±2%1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤20%测试间隔时间1-600分钟测试速度20mS/所有通道测试电压稳定时间1-600秒(可设置)高阻判定阀值1x106-109Ω短路保护电流阀值5–500uA保护电阻1MΩ测试电缆线材耐高温特氟纶线(≧1014Ω,200℃)长度标配,office软件、数据库GWHR-256产品优势:1、精度高:优于同业产品;2、测试速度快:20ms/所有通道;3、结构、配置灵活:板卡设计,可选择16路*N(1≥N≤16);4、测试配置灵活:每组板卡可设置不同的测试电压,可同时完成多任务测试;5、容错机制强:任何一组板卡发生故障不影响其它通道的正常测试;6、接口友好:软件可定制,或开放数据接口,或接入实验室LIMS系统;7、操作方便:充分考虑实验室应用场景,方便工程师实施工作。 SIR表面绝缘电阻测试的目的之一:变更回流焊或波峰焊工艺。陕西pcb绝缘电阻测试供应商
确认适当的偏置电压已经被加载在样品上进行周期性测试。为了比较不同内层材料和制程的耐CAF性能,使用100V直流偏压的标准CAF测试条件。为了确认测试结果与实际寿命之间的关系,第二个偏置电压条件需要选择给定的最高工作电压的两倍。当一个较小的偏置电压不能有效地区别更多不同的耐CAF材料和制程时,更高的偏置电压由于会线性地影响失效时间,应该被避免采用。这是因为过高的偏置电压会抵消掉相对湿度的影响,而相对湿度由于局部加热的原因是非常重要的失效机制部分。浙江pcb绝缘电阻测试发展与其它方法比较,SIR的优点是除了可侦测局部的污染之外,还可以测量离子与非离子污染物对PCB可靠性的影响。

几十年来,行业标准一直认为SIR测试是比较好的方法。然而,在实践中,这种方法有一些局限性。首先,它是在标准梳状测试样板上进行的,而不是实际的组装产品。根据不同的PCB表面处理、回流工艺条件、处理工序等,需要进行**的测试设置。而且测试方法的选择,可能需要组装元器件,也可能不需要。由于和助焊剂分类有关,这些因素的标准化是区分可比较的助焊剂类别的关键。另一方面,工艺的优化和控制可能会遗漏一些关键的失效来源。其次,由于组件处于生产过程中,无法实时收集结果。根据测试方法的不同,测试时间**少为72小时,**多为28天,这使得测试对于过程控制来说太长了。从而促使制造商寻求能快速有效地表征电化学迁移倾向的测试方法,以控制组装工艺。
金属离子迁移过程此失效样品灌封胶有机物与电路板上电阻存在一定缝隙,未能完全隔绝两端电极,缝隙的存在为电化学迁移提供了迁移通道。因此密封电阻与电路板间缝隙能够抑制金属离子的迁移过程。针对金属离子的迁移过程,可以加入络合剂,使其与金属正离子形成带负电荷的络合物,带负电的络合物将不会往阴极方向迁移和在阴极处发生还原沉积,由此达到抑制金属离子往阴极迁移的目的。同时,随着外电场强度增大,会加快阳极溶解、离子迁移和离子沉积过程。根据文献[10]报道,当外电压不超过2V时,形成的树枝状沉积物数目较少,且外加电压的增加会使得电化学迁移造成的短路失效时间会***缩短。因此,尽量在设计阶段中,设置元件在工作状态时为较低的外电场,也能避免由于快速发生电化学迁移而导致的短路失效,延长使用寿命。相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象(类似锡须,容易造成短路),这种现象称为离子迁移。

电子元器件失效分析项目1、元器件类失效电感、电阻、电容:开裂、破裂、裂纹、参数变化2、器件/模块失效二极管、三极管、LED灯3、集成电路失效DIP封装芯片、PGA封装芯片、SOP/SSOP系列芯片、QFP系列芯片、BGA封装芯片4、PCB&PCBA焊接失效PCB板面起泡、分层、阻焊膜脱落、发黑,迁移氧化,腐蚀,开路,短路、CAF短时失效;板面变色,锡面变色,焊盘变色;孔间绝缘性能下降;深孔开裂;爆板等PCBA(ENIG、化镍沉金、电镀镍金、OSP、喷锡板)焊接不良;端子(引脚)上锡不良,表面异物、电迁移、元件脱落等5、DPA分析电阻器/电容器/热敏电阻器/二极管等电子元器件可靠性验证服务CAF的增加会使板子易吸附水汽,将会造成环氧树脂与玻璃纤维的表面分离。海南电阻测试系统
SIR表面绝缘电阻测试的目的之一:基于可靠性的产品标定。陕西pcb绝缘电阻测试供应商
设计特性描述IPCJ-STD-001是一份规范焊接电子组件制造实践和要求的文件。一般来说,根据J-STD-004的分类标准,这些助焊剂适用于电子组装。在使用几种不同的涂层和助焊剂时,兼容性也需要测试。兼容性测试的方法因应用而异,但需要使用行业标准方法测试。理想情况下,电化学可靠性/兼容性应该用**新型组装的电路板和元器件进行测试。由炉温定义的加热循环过程对助焊剂的表现也很关键。清洗工艺也应该使用类似于SIR的方法在IPC-B-52的板子上验证。一旦优化了组装,就应该进行深入的测试去确定组装的设计和工艺。在J-STD-001中,就以IPC-9202和9203来举例。在组装区域,温度曲线经历了比较大的热量,因此比较低和**短的峰值被复制应用于任何测试样板制作,以确保测试结果的一致性和可靠性的预期。陕西pcb绝缘电阻测试供应商
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