广州智能AOI原理

AOl具有元器件检测、PCB板检测、焊接元器件检测等功能。AOI检测系统用于SMT加工零部件检测的一般程序是对已安装部件的印刷线路板进行自动计数，并开始检查;检查印刷线路板的引线侧，确保引线端对齐、弯曲正确;检查是否有缺件、错件、损坏件、检查安装的IC和分立器件的类型、方向和位置，检查IC器件上的标记印刷质量。如果AOI发现有缺陷的部件，系统将向操作员发送一个信号，或触发处理程序这机器能自动除去有缺陷的零件。该系统对缺陷进行分析，向主机提供缺陷的类型和频率，并对制造过程进行必要的调整。AOI检测的效率和可靠性取决于所使用软件的完整性。AO还具有易于使用、易于调整、不需要编写可视化系统算法的优点。AOI检测主要应用领域包括PCB、半导体和FPD面板。广州智能AOI原理

AOI检测原理:通过摄像技术将被检测物体的反射光强，以定量化的灰阶值输出，通过与标准图像的灰阶值进行比较，分析判定缺陷并进行分类的过程。AOI采用的光学传感器和光学透镜相当于人眼，AOI的图像处理与分析系统就相当于人脑，即“看”与“判”两个环节，在整个AOI检测中，其工作逻辑可以简单地分为：Step1：图像采集阶段（光学扫描和数据收集）；Step2：数据处理阶段（数据分类与转换）；Step3：图像分析段（特征提取与模板比对）；Step4：缺陷报告阶段四个阶段（缺陷大小类型分类等）。在整个AOI系统运作中，所有的判定基础都是基于摄影得到的图像，因为摄影得到的图像被用于与系统中的模板做对比，所以获取图像信息的精确性对于检测结果非常重要！若图像采集器看不清楚或看不到被检测物体的特征点，那么也就无法谈到准确的检出。 浙江专业AOI光学检测仪简单来说货真价实的AOI检测仪模拟和拓展了人类眼、手的功能，利用光学成像方法模拟人眼的的视觉成像功能。

AOI检测主要应用领域包括PCB、半导体和FPD面板。因AOI检测主要应用于PCB、半导体及FPD等电子元器件生产过程中的检测环节，几乎每一个电子元器件都需要进行瑕疵检测，因此这些电子元器件的产量与AOI检测的应用结构息息相关。因此，AOI检测行业应用需求结构主要通过PCB、半导体和FPD的产量比例来进行测算得到。从AOI检测设备应用需求分布情况来看，根据Yole调研数据显示，2019年全球AOI检测设备应用较多的是PCB行业，占到总体市场的69%。

AOI自动光学检测设备有个比较大的缺点是有些灰阶或是阴影明暗不是很明显的地方，比较容易出现误判的情况，这些或许可以使用不同颜色的灯光来加以判别，但较麻烦的还是那些被其他零件遮盖到的元件以及位于元件底下的焊点，因为传统的AOI只能检测直射光线所能到达的地方，像是屏蔽框肋条或是其边缘底下的元件，往往就会因为AOI检测不到而漏掉。总之，AOI自动光学检测设备虽然好用但确实也有些先天上的限制，不过可以用在即时的SMT初步品质分析，并马上回馈SMT的品质状况，让SMT制程作业加以改善，的确可以有效提高SMT的产出良率。AOI将减少修理成本避免报废不可修理的电路板出现。

AOI（automaticallyopticalinspection）是光学自动检测，顾名思义是通过光学系统成像实现自动检测的一种手段，是众多自动图像传感检测技术中的一种检测技术，中心技术点如何获得准确且高质量的光学图像并加工处理。AOI检测技术应运而生的背景是电子元件集成度与精细化程度高，检测速度与效率更高，检测零缺陷的发展需求。AOI检测的比较大优点是节省人力，降低成本，提高生产效率，统一检测标准和排除人为因素干扰，保证了检测结果的稳定性，可重复性和准确性，及时发现产品的不良，确保出货质量。在人工智能技术与大数据发展进步的现在，AOI检测不仅只是一部检测设备，对大量不良结果进行分类和统计，可以发现不良发生的原因，在工艺改善和生产良率提升中也正逐步发挥着更重要的作用，因此，可以预期未来AOI检测技术将在半导体与电子电路检测中将会发挥越来越重要的作用。 AOI通过人工光源LED灯光代替自然光，光学透镜和CCD代替人眼，已经编好程的标准进行比较、分析和判断。深圳智能AOI光学检测

AOI的光学图像系通常CCD线阵相机、聚集镜头、卤素或LED灯光源及图像采集卡等组成。广州智能AOI原理

照明光源按照波长分类可以分为可见波长光源，特殊波长光源。可见波长光源也就是一般现代工业AOI检测设备中较常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源，一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大，灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源，比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理，检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段，因材料成分与红外光谱有对应关系的原理，红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用，甚至可以实现成分分析。特殊光源中，利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化，利用光学干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷检测中的得到了应用，例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差，可以测量出被测物体与参考物体之间的差异，且分辨率与精度为可以达到亚波长。 广州智能AOI原理

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