广州自动AOI

AOI技术实现要素：本发明所要解决的技术问题是提供一种AOI检测方法，其可降低现场操作人员误判的几率，提高产品质量。为达上述目的，一种AOI检测方法,其通过一AOI检测设备执行，用于检测待测PCBA板卡,其包括以下步骤:a.启动一AOI检测程序，对该待测PCBA板卡上的元件进行检测获得一检测数据,；b．判断该检测数据是否超过一预先设置的阈值，如果是则执行步骤c，如果否则执行步骤f；c.判断该待测PCBA板卡的检测数据是否大于一预先设置的第二阈值，如果是则执行步骤d，如果否则执行步骤e；d.判定该待测PCBA板卡为不合格产品并存储该待测PCBA板卡的检测结果；e.根据现场操作人员的输入信息，储存该待测PCBA板卡的检测结果；以及f.判定该待测PCBA板卡为合格产品并存储该待测PCBA板卡的检测结果。 AOI检测仪有很高的自洁能力，不能给生产环境尤其被测工件本身带来二次污染，这会影响系统构件的材料选型。广州自动AOI

画面显示：1、主图画面都有显示器件框，便于观察器件是否被识别；2、根据底板颜色可以自由选择器件框颜色；3、可依据客户需求，自由定义器件中文名；4、不良器件图静态显示；程序制作灵活性：1、无需设置参数；2、在线抓拍首件板系统辅助做程序，且支持持续补充学习，学习后自动建模比例更高（80%+）；---自动框图器件种类多（60+），比例高。3、支持中文、英文、中英文混合输入；4、批量复制、粘贴、剪切、删除等支持快捷键操作。---硬件条件和安装尺寸不发生变化，已做好的模板可长久正常使用 上海自动AOI由于电路板尺寸大小的改变提出更多的挑战，越来越多的原设备制造商采用AOI。

AOI是AutomatedOpticalInspection的缩写，中文翻译是自动光学检测。AOI本身是一种技术，但目前大多指的是AOI设备，即自动光学检测设备。在国外AOI设备已经有一定的历史，AOl技术的主要应用领域包括PCB、FPD、半导体、光伏等多个行业，AOI设备多是在半导体和面板检测领域应用，导致目前AOI已经被默认为半导体和面板自动化检测的代名词，而且更多强调的是贴装、焊锡等表面缺陷的检测。随着技术的发展，已经出现了3D-AOI产品。当然，针对其他行业中的应用，如纺织品、金属等产品的表面检测，我们也可以这些检测设备为AOI设备，只不过目前其他行业的应用暂时没有这么广泛应用，这种共识还没有达成。

对无缺陷生产来讲，自动光学检查（AOI）是必不可少的。在转到使用无铅工艺时，制造商将面临新的挑战，在生产中会出现其他的问题，引起了人们的关注。本文分析转到无铅工艺的整个过程，特别是在大规模生产中引进了0402无铅元件。由于缺乏无铅元件，转到使用无铅元件是分阶段进行的。在2004年，由于要求电子产品的体积越来越小，迫使制造商较大范围地用0402元件来取代0603元件和0805元件。工艺条件除了普遍使用的0402元件，印刷电路板的较好次合格率（FPY）必须达到95%，而且必须根据印刷电路协会（IPC）的2级标准来检测缺陷。例如，在有608个焊点的168元件的情况下，相当于要求误报率是百万分之65。为了达到FPY的要求，在检测缺陷时必须考虑以下条件：元件长度的公差、元件供应商、贴片公差、在25个AOI系统上的全球检测数据库、有80个独特产品的全球检测数据库、无铅焊料、不同的电路板供应商以及检测质量要达到IPC的2级标准。 目前常用的图像识别算法为灰度相关算法，通过计算归一化的相关来量化检测图像和标准图像之间的相似程度。

随着电子技术、图像传感技术和计算机技术的快速发展，AOI（自动光学）检测技术以其自动化、非接触、速度快、精度高、稳定性高等优点，成为表面缺陷检测的重要手段，补足智能化生产线上的品质把控关。AOI是兴趣面，可以较好体现范围，也就是说边界更加明晰，AOI其实属性之一就是POI，采用UID标记。AOI就是有边界的POI，那么我们就可以根据POI获取AOI来验证数据的准确性。特别是研究街道尺度的，加上POI和AOI数据，对城市功能分区，城市热环境、城市灰绿地等等都非常有用。 AOI检测行业应用需求结构主要通过PCB、半导体和FPD的产量比例来进行测算得到。福建专业AOI原理

AOI检测仪可以进行多维度检测监督产品性能，即便是有普通的划痕等也可以通过这种智能化技术进行检测。广州自动AOI

AOI检测设备中常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源，一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大，灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源，比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理，检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段，因材料成分与红外光谱有对应关系的原理，红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用，甚至可以实现成分分析。特殊光源中，利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化，利用光学干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷检测中的得到了应用，例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差，可以测量出被测物体与参考物体之间的差异，且分辨率与精度为可以达到亚波长，测量三维物体形貌与高度也正成为AOI检测的新需求。（下图为侧光源与同轴光源实例） 广州自动AOI

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