黑体在工业上主要应用于测温领域，其主要的产品是黑体炉。对辐射温度计的校准、检定，通常采用比较法，就是通过高稳定度的辐射源（通常为黑体辐射源）和其他配套设备，将标准器所复现的温度与被检辐射温度计所复现的温度进行比较，以判断其是否合格或给出校准结果。在校准、检定工作中，辐射源一般在-6～1200℃（或1600℃）范围内可用开口式中、低温黑体炉，1200（或1600℃）～3200℃采用抽真空并充惰性气体保护的高温黑体炉。标准器分别为二等标准热电偶（二等标准铂电阻温度计）和标准光学（光电）高温计。辐射温度计是依据物体辐射的能量来测量温度的仪表。根据辐射理论，任何物体只要不处于-273.15℃，那么在其他任意温度下都存在热辐射。处于热平衡状态的黑体在半球方向的单色辐射出射度是波长和温度的函数。超大面源黑体炉在行业内属于亟待突破的关键标定设备，是受到限制的“卡脖子”难题。中低温黑体炉怎么用
BR125低温黑体辐射源/黑体炉温度范围宽广，由-25～125℃内任意一温度点皆可随需要调整。稳定、重复的校正面板让使用者能快速而准确地校正及测试红外线高温计(红外测温仪)。黑体开孔直径Φ50mm的面积，适用大部份的红外线高温计(红外测温仪)。系统另有RS-232或485的计算机通讯接口方便计算机控制设定温度及自动测试。功能特点：●温度范围：-25～125℃●采用自动升温控温方式、安全可靠、温度稳定性好、使用操作方便●使用双排数字显示测量值及设定值●紧凑而坚固的设计、集校准与测试的完美结合腔体式黑体炉代理商在光学方面，已经普遍采用黑体炉作为标准辐射源和标准背景光源。
由于是针对目标响应值相对大小关系的校正，这就使得一点校正法可以在目标响应值与校正测量值相近时的任何情况下都能较好地成像。例如，一种很常见的实现方式是在环境温度、FPA温度变化后，通过实时动态调节积分时间、全局偏置等参数，让目标响应值回到与校正测量时相近的范围内，则成像一般不成问题，但这样处理后将导致测温算法复杂化甚至根本无法实现测温功能。各厂家在一点校正法的工艺实现中，还有个普遍的谬误：用高、低温黑体炉作校正测量，但在应用中却是用的档片机构此时档片起到的是参考黑体的作用。如果用外档片则还与校正测量的情况比较接近，但内档片差得就很离谱了。
对于测试和研究中所采用的黑体，是根据需要设计，种类繁多。用于材料光谱发射率测量的黑体，是一个界于腔式黑体和面源黑体之间的黑体，发射面只有Φ10mm。用于辐射温度仪器中定点校准用的黑体，是一个定温度的辐射能量很稳定的光源。在****系统使用的黑体中**小只有小手指大，因此称为指状黑体；为了模拟目标，在一个平面上分隔成多个不同温度区域的**面源黑体称为目标模拟器。等等。——简易黑体对于红外热像仪检测或校准时，特别是对于辐射率低，如光亮反射或低频率物体，或不明的物体的温度测量，可通过黑体漆或黑体胶带来确定其辐射率，从而达到准确测温的目的。 黑体炉通常人机界面，中文显示，触摸操作，美观大方。
高精密光电高温计标准黑体炉与参考温度计的组合，共同构成计量标准。LP4/LP5系列高精密光电高温计是德国KE公司研发生产的一系列性能稳定、可用作标准器使用的光电高温计。其主要功能是作为辐射温度计在高温段检测时的标准器使用。该设备可配合黑体辐射源，在(220~3000)℃;范围内对辐射温度计进行检定校准工作。其主要是利用黑体辐炉试验室提供稳定的辐射温度，将高精密光电高温计和被检辐射温度计置于辐射温度场范围内，结合测温二次仪表对辐射温度计进行检测校准，以获得准确的亮度温度。因此采用各种手段使黑体腔体尽可能均匀，接近理想黑体的温场，是提高黑体炉性能的主要途径。高温黑体炉图片
腔口发射率在0.995以上，分辨率达到0.1℃、高精度黑体路则达到0.01℃。中低温黑体炉怎么用
激光能量法具有几下特点：a)激光辐射源本身的温度可以很低，避免了现有黑体辐射源因本体材料的耐热性导致的温度上限不能超过3200℃的情况，因此温度上限可以很高。由于采用激光器代替了黑体炉作为辐射源，其输出的能量完全可以满足辐射温度计对高温校准的要求。b)使用方便。从键盘输入辐射温度计光学系统的通光孔径r，辐射温度计与被测目标的距离R为1000mm时，目标能够辐射到辐射温度计面积S，光学系统光谱范围的上、下限波长λ1，λ2和温度值T0i后，激光辐射源即可直接输出对应于温度T0i的辐射能量φ0λ1，λ2(T0i)。c)激光能量法属于***法校准，不需要标准温度计。同时，也不同于一般的***法校准，不需要定义固定点和内插方程。采用标准激光功率计作为标准器，通过激光辐射源的输出能量来获得对应于热力学温度T0的辐射能量φ0λ1，λ2(T0i)。标准激光功率计对激光辐射源的输出能量进行测量，并进行自校准。中低温黑体炉怎么用
